Plasma Profiling TOFMS
Analiza dubinskog profiliranja pomoću plazma-profiliranja vremena masene spektrometrije
HORIBA Scientific novel Plasma Profiling TOFMS (PP-TOFMS) instrument daje hemijski sastav kao funkciju dubine čvrstih materijala. Ova tehnika dubinskog profiliranja sastoji se od izvora plazme sa sjajnim ispuštanjem koji erodira i ionizira uzorak materijala spojenog na ultra brzi spektrometar mase.
Visoko propusni i univerzalni alat za profiliranje dubine.
Visoka jonska gustina plazme rezultira velikom brzinom raspršivanja. Pored toga, vrijeme prije analize vrlo je smanjeno jer uzorak nije potrebno prenijeti u komoru s visokim vakuumom. Kao rezultat toga, submikronsko tanke sloojeve može se analizirati za nekoliko minuta.
Upotreba radiofrekvencijskog signala omogućava analizu svih vrsta anorganskih materijala u rasponu od provodnih do neprovodnih (npr. Tankih slojeva na debelim staklenim podlogama). Brza priprema uzoraka omogućava analizu premaza na fleksibilnim podlogama.
Visok dinamički raspon.
Masovna spektrometrija sa izvorom plazme visokog intenziteta omogućuje visoko osjetljivost. Na skali nanometra dostižemo dinamički raspon od 106. Detaljna merenja omogućavaju dostizanje osetljivosti na ppm. Pored toga, zahvaljujući odvajanju raspršivanja i ionizacije (efekti niske matrice), jednostavan izračun unutarnje kalibracije daje nam polukvantitativne rezultate (atomske koncentracije u ispravnom redoslijedu veličine).
Potpuna masovna pokrivenost.
Velika prednost analizatora je mogućnost snimanja kompletnih i kontinuiranih masenih spektra. PP-TOFMS mjeri masni spektar koji pokriva sve elemente periodične tablice svakih 33 µs. Stoga se bilo koji element može pratiti kao funkcija vremena / dubine erozije. To znači ne samo nulti rizik za propuštanje bilo kakve elementarne dubine, već i punu vjerojatnost otkrivanja prisutnosti neočekivanih elemenata (kontaminacije). Konačno se bilježe svi izotopi, što može biti korisno u slučaju izobarnih interferencija i za proučavanje mehanizama (oksidacija, difuzija) primjenom izotopskog označavanja.
