XGT-7200

Rendgenski analitički mikroskop

XGT-7200 predstavlja potpuno novu generaciju XRF mikroskopa. Nudi neprimjereno spajanje optičkih opažanja i funkcija elementarne analize, revolucionirajući svijet mikroanalize i uspostavljajući mikro-XRF kao rutinsko sredstvo za istraživača i analitičke naučnike.

Jedinstvene hardverske karakteristike osiguravaju da sistem nudi svestranost i fleksibilnost kod svakog mjerenja. Izbor dvije softversko kontrolirane rendgenske cijevi promjera raspona od jedinstvenog 10 µm do 1,2 mm omogućuju optimizaciju uvjeta za niz mjerenja, uključujući mikro i makro. Slično tome, s jedinstvenim dualnim režimima vakuuma moguće je prebaciti u roku od nekoliko sekundi između režima punog vakuuma visoke osetljivosti i svestranog načina lokalizovanog vakuuma. Potonji održava uzorke pri atmosferskom pritisku zadržavajući osjetljivost na sve elemente od natrijuma do urana.

U bilo kojoj konfiguraciji, inteligentna kombinacija optičkih kamera osigurava da se precizan položaj analize može brzo i jednostavno locirati.